JB/T 96851999 前言 本标准主要依据GB/T4023一1997《半导体器件、分立器件和集成电路第2部分整流二极管》 对ZBK46002—87《高压整流堆》进行修订。本标准编写规则按GB/T1.11993的规定。 本标准主要修改的内容： 1周期检验的抽样方案进行了调整，以与有关标准协调一致。 2删去了原附录A《反向浪涌功率试验》，改为直接引用JB/T7624一1994的5.2。 3表7中，原B组的PRsM（反向浪涌功率）不考核，现改为不分A、B组都考核。 此外，标准编写和表述有一些变化，如增加了标准的英文名称、前言，明确了标准为推荐性标准 等。 本标准的附录A是标准的附录。 本标准自实施之日起，同时代替ZBK46002一87。 本标准由西安电力电子技术研究所提出并归口。 本标准由上海电阻厂负责起草。 本标准主要起草人：谭济东、单明圣、章映金、席时春。 本标准首次发布于1979年5月1日。 第二次发布时间为1987年3月1日，1988年7月1日实施。 117 中华人民共和国机械行业标准 JB/T9685-1999 高压整流堆 代替ZBK46002—87 High voltage rectifier stack 1范围 本标准规定了高压整流堆（以下简称整流堆）的型号与分类、额定值和特性参数、逐批检验和周 期检查、质量类别、标志和定货单。 本标准适用于工频50Hz、额定电压10kV至150kV、额定正向电流为0.05A至3A的ZD型整 流堆。 2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。在标准出版时，所示版本 均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 GB/T4589.1--1989 半导体器件分立器件和集成电路总规范（idt1EC60747-10：1984） GB/T 49371995 半导体器件机械和气候试验方法（idtIEC60749：1984） JB/T7624—1994 整流二极管测试方法 3型号与分类 3.1型号与符号 3.1.1型号 D 正向峰值电压的组别（见表5） 反向重复峰值电压的级别（见表4） 额定正向平均电流值（单位：A） -高压堆 整流特性 注：高压整流堆由若干整流管的管芯串联封装面成，它的反向耐压由管芯的耐压及所串联的管芯数决定。 3.1.2符号 A-阳极：K一朗极 图1 3.2外形尺寸 3.2.1圆形整流堆 2000-01-01实施 国家机械工业局1999-08-06批准 118 JB/T9685-1999 圆形整流堆外形尺寸应衍合图2、图3及表1的规定。 5 B 2—M4深4 图2 图3 表1 mm 品种 级别 Am B_ Dz p 1、2 24 ZD 0.05 3、4 48 ZD 0.1 5、6 72 ZD 0.2 7. 8 Φ80 96 12 M6 ZD 0.4 9、10 120 ZD 0.6 12 144 ZD 0.8 15 192 @24 1、2 30 ZD 1 3、4 60 ZD 1.2 5、6 06 ZD 1.5 7、8 Φ120 120 20 M8 ZD 2 9、10 150 ZD 2.5 12 180 ZD 3 15 240 3.2.2长条形整流堆 119 JB/T96851999 长条形整流堆外形尺寸应符合图4及表2的规定。 -M4深4 图4 表2 mm 品种 级别 8 1、2 60 ZD 0.05 3、4 130 ZD 0.1 5、6 190 ZD 0.2 7、8 260 35. 14 ZD 0.4. 9、10 ZD 0.6 12 ZD 0.8 15 1、 2 90 3、4 190 ZD 1 5、6 280 7、8 ZD 1.2 380 06 20 9、10 ZD 1.5 12 15 1、2 100 3、4 ZD 2 220 5、6 320 7、8 ZD 2.5 440 100 25 9、10 ZD 3 12 15 3.3品种、级、组和类的划分 3.3.1按额定正向平均电流（1F（AV，）分品种，-见表3。 120 JB/T9685-1999 表 3 品种 ZD 0.05 ZD 0.1 ZD 0.2 ZD 0.4 ZD 0.6 ZD 0.8 ZD! ZD 1.2 ZD'1.5 ZD2 ZD 2.5 ZD 3 IrtAV) . A 0.05 0.1 0.2 0.4 0.6 0.8 1.2 1.5 2 2.5 3 按反向重复峰值电压（VRM）分级， 见表4。 3.3.2 表4 级别 2 3 5 7 1 4 6 8 9 10 12 15 K 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 120 150 3.3.3 按正向峰值电压（VM）分组， 见表5。 表 5 级 别 组别 1 2 3 6 7 8 9 10 12 15 VEN! v ≤18 ≤36 ≤54 OL> ≤88 ≤106 122 ≤138 ≤156 《173 ≤208 ≤206 A >18 >36 bs< >70 >88 >106 >122 >138 >156 >173 >208 >260 B ~22.5 ~42 ~60 ~82 ~102 ~121 ~134 ~149 ~178 ~205 ~272 ~365 按额定结温时的反向重复峰值电流（IRM）分类，） 见表6 3.3.4 表6 种 类 ZD0.8 ZD0.4 ZD1 ZD1.2 ZD1.5 ZD2 ZD2.5 ZD0.05 ZD0.1 ZD0.2 ZD0.6 ZD3 别 IRRM mA 1 ≤0.15 ≤0.2 ≤0.3 ≤0.6 ≤0.2 ≤0.3 ≤0.5 1 4 额定值和特性参数 最大额定值（极限值）与特性参数值应符合表7规定，并适用于整个工作温度范围。 表 7 2 3 4 5 7 8 9 10 11 1 6 正向 反向重 反向不重 正向浪酒电流 反向重 工作 贮存 紧固力矩 反向浪 正向蜂 IsM 质量 平均 复蜂值 复峰值电 复蜂值 结温 温度 涵功率 值电压 A 电流 电流 电压 压 M PRSM m Vra IRNI g N·m A B kw V kV mA A 0.05 0.5~7.5 0.1 由制造厂 1~15 0.2 2~30 由 0.4 4-60 制 0.6 给出（允带 6~90 40 40 造 符合 符合 8~120 0.8 1.11 VRRAT 20gAW 10~150 401rAV) 厂 10~150 表5 表6 1 +150 +150 1.2 12-180 给 1.5 15~225 出 2 ± 10% 20-300 2.5 25~375 30~450 注：表中A、B为表5中按正向蜂值电压所分的A组、B组值范围。 121 JB/T9685-1999 5逐批检验和周期检验 5.1 逐批检验 产品应按表8进行百分之百的检验，表8项目为非破坏性试验。 表8 抽样方案 序号 项 目 检验方法 判据 LTPD 标志清晰，表面无缺陷、损伤、 外观检查 在正常照明和正常视力下目检 10 焊接质量符合要求 GB/T4937—1995的加·2 无裂痕和表面损伤。试后测量： 高温存 2 VA≤1I LSL. InR≤2 USI. JB/T7624—1994的4.4 反向重复峰值电流IaRM 符合表6的规定 3 （25℃、150℃） 正向峰值电压Va JB/T7624—1994的4.1 符合表5的规定 注 USL为表7对应的规范上限值。 2IgR试验，对于级别≤4的整流堆，包括级别4以上的组件中的单件，都必须在150℃时试验。 5.2周期检验 5.2.1正常生产的定型产品，除振动或冲击和热循环负载每三年至少对一批进行试验外，表9其它所 有项目必须每年对一批进行一次检验。 5.2.2不经常生产的产品，再次投产时，须进行周期检验。 5.2.3 当工艺改变，且影响其性能时，须进行周期检验。 5.2.4 周期检验在逐批检验合格的基础上进行。 表9 抽样方案 序号 检验项目 检验方法 判 c 外形尺寸 检查图2、图3或图4的尺寸 符合表1或表2的规定 1 试后测量： JB/T7624—1994的5.2.5或5.2.3 VN≤I.1 USI. 2 反向浪涌功率 11 t,=10± 1μs IRM≤2USL 符合表7的规定 JB/T 7624—1994的5.4 试后测量： 150%℃、50%反向重复峰值电 VA/E1.1UST. 3 正向浪派电流 1 压，浪源次数：20次，每次浪酒 IRay≤2 USL 符合表7的规定 波数：一个周波 试后测册： V1.1 USL 整流堆（不带包装）在－40±3℃ 低温特性 1aR≤2USL 的冰箱内恒温1h 外观检在无断裂形变及其它表面 损伤 GB/T 49371995 的ⅢI · 1.1 (Na) 试后测量： 两箱法、-40℃、150℃循环5次， 温度循环 每循环高低溢各暴露1b.转移时 ViN/≤1.1 USL 间 3~4 min IRX≤2USL 122 JB/T9685-1999 表9（完） 抽样方安 序号 检验项目 检验方法 判 据 n 武后测量： JB/T7624—1994的5.7 热循环负载 6 V/≤ LI USL 循环次数：1000次 IgRy≤2 USI. 整流雄按实际使川的安装方法，紧 试后测量： 固在振动台上，整流堆与振动台之 振动或冲击（D） VE≤1.I USi. 间不得加垫缓冲物，GB/T4937- IRRA≤2 USL 1995的I·3（Fc）或I·4（Ea） 放行批确认记录 简要给出各填检验的有关属性数据，试验前后的Var、IRR值和