ICS 77. 040. 99 H 24 YB 中华人民共和国黑色冶金行业标准 YB/T 4290—2012 金相检测面上最大晶粒尺寸级别 （ALA晶粒度）测定方法 Test methods for estimating the largest grain observed in a metallographic section (ALA grain size) 2013-03-01实施 2012-11-07发布 中华人民共和国工业和信息化部 发布 YB/T 4290—2012 前言 本标准使用翻译法等同采用ASTME930—99(2007)《金相检测面上最大晶粒尺寸级别（ALA晶粒 度)测定方法》。 为了便于使用及符合我国习惯，本标准对ASTME930一99(2007)作了下列修改： a）删除了ASTME930—99(2007)的前言，增加了本标准前言； b）删除了ASTME930—99(2007)中1.3关于安全的陈述； c）对ASTME930一99(2007)的“规范性引用文件”按我国规定进行了改写，用相关国家标准代替 了部分原ASTM标准（见第2章）； d）在6.1中增加了标题“总则”； e）删除了ASTME930—99(2007)的关键词”部分； f) 将附录按GB/T1.1规定改编为附录A和附录B。 本标准对ASTME930一99(2007)有误或缺漏之处进行了更正或增补，主要如下： a）更正了表1第4行面积数值，将原"0.703”改为"0.730”， b) 在6.4.5中增加了“（如根据6.4.1规定测定多个截面面积，则应选用其最大面积)”的说明； c) 更正了ASTME930--99(2007)附录A.2中放大倍率为500X时所对应的晶粒度级别，即A、B、 C、D及E系列图相应的级别数值降低半级，分别修改为5.5、6.0、6.5、7.0与7.5级。 本标准由中国钢铁工业协会提出。 本标准由全国钢标准化技术委员会（SAC/TC183）归口。 本标准起草单位：宝山钢铁股份有限公司、冶金工业信息标准研究院、东北特殊钢集团有限责任公 司。 本标准主要起草人：刘卫斌、栾燕、曾文涛、苏建红、俞信霞。 本标准为首次发布。 YB/T4290—2012 言 引 材料标准有时会在晶粒度检验项目中要求识别试样中观测到的最大晶粒，通常表示为ALA晶粒度 本标准适用于大晶粒数目太少而无法用GB/T6394—2002标准测量的情形。应注意可能会在试样其他 局部位置存在未观测到的更大晶粒。 YB/T42902012 金相检测面上最大晶粒尺寸级别（ALA晶粒度）测定方法 1范围 本标准规定了在金相检测面上测定所观察到的最大晶粒尺寸级别（ALA晶粒度)的试验方法。 2002标准测量其晶粒度 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单适用于本文件。 GB/T13298金属显微组织检验方法 GB/T24177双重晶粒度表征与测定方法（GB/T24177—2009，ASTME1181—2002，IDT） GB/T30067金相学术语 3术语 GB/T30067中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。 3. 1 ALA晶粒ALA(as largeas)grain 在随机分散分布的孤立粗大晶粒中观测到的最大晶粒。这些粗大晶粒所占面积分数不大于试样检 测面面积的5%。试样检测面上这些粗大晶粒与基体晶粒的晶粒度级差不小于3级。 3.2 异常晶粒outliergrain 尺寸与占优势晶粒的晶粒度明显不同的晶粒，如ALA晶粒。 4意义与用途 4.1大晶粒的存在关系到材料的异常力学行为，如裂纹的萌生、扩展及疲劳。因而技术上有必要报告 ALA晶粒度。 4.2本标准适用条件为：组织中存在异常粗大晶粒，其晶粒度级别与基体的晶粒度级差不小于3级，且 所占面积不大于试样检测面面积的5%。附录A中图A.1给出了典型照片实例。 4.3本标准不能用于测定平均晶粒度，平均晶粒度测定应按GB/T6394--2002进行。附录A中图 A.2、图A.3和图A.4给出了不适用于ALA方式处理的显微组织实例。 4.4本标准中的方法可按GB/T24177标准的规定用于表征双重晶粒度。 5取样 5.1取样方法按GB/T6394一2002标准规定进行。 5.2预检测面一般应是通过产品厚度中心的平面，并能显示晶粒最大长宽比。 5.3在特定产品或使用中，可采用其他更有效或更有预见性的检测面。 5.4检测报告中应明确说明检测面的位置和取样方向， 1 YB/T4290—2012 5.5 试样制备按GB/T13298标准进行。 方法步骤 6 6.1 总则 本标准6.2的比较法测量最大晶粒的准确度接近士1个晶粒度级别。6.3的测量法的准确度较比较 法要更高一些。6.4的人工定量测量方法，可推荐为仲裁方法（当ALA晶粒截面与附录B中给出的图形 明显不同时，建议优先采用测量法，而非比较法）。 6.2比较法 6.2.1以适宜的放大倍率观察试样整个检测面以便找出较粗大晶粒的位置。 6.2.2 2将观察到的最大晶粒置于显微镜视屏或目镜视场中央，或显示在照片上。 6.2.3 用将ALA晶粒和附录B图B.1进行比较来测量晶粒度。图B.1是比较法测量ALA晶粒度的 示意图，是以表1中晶粒度与面积关系为依据，图B.1中的图形尺寸见表B.1。对应图B.1的实际图谱 仅可用于图中所规定的放大倍率下。 注：此处不能使用GB/T6394-—2002中的图谱，因为很少有晶粒截面能相应于晶粒度级别的平均面积。 表1 ALA晶粒面积与ALA显微晶粒度级别关系 面积/mm² 级别 2. 06 00000或-4.0 1. 46 3. 5 1. 03 0000或-3.0 0. 730 2, 5 0. 516 000或-2.0 0. 365 1. 5 0. 258 00或-1.0 0. 182 0. 5 0. 129 0 0.0912 0. 5 0. 0645 1. 0 0. 0456 1. 5 0, 0323 2. 0 0. 0228 2. 5 0. 0161 3. 0 0. 0114 3. 5 0, 00807 4. 0 0. 00570 4. 5 0. 00403 5. 0 0.00285 5. 5 0.00202 6. 0 0. 00143 6. 5 0.00101 7. 0 注：根据GB/T6394—2002中表5改写而得。 2 YB/T4290—2012 6.3测量法（准确度高于比较法） 6.3.1按6.2.1和6.2.2方法在试样金相检测面上找出最大晶粒所在位置，并将之置于显微镜图像或 显微照片中。 6.3.2使用适当的测微目镜、内部标片或外部标尺测量晶粒的最大卡尺直径，以及垂直于最大卡尺直径 方向晶粒的卡尺直径 6.3.3用0.785乘以两个测量值之积，得到所用放大倍率下的椭圆面积。此时，椭圆的长轴等于晶粒最 大卡尺直径，短轴等于垂直于最大卡尺直径方向晶粒的卡尺直径。 6.3.4将上述面积除以放大倍率的平方得到在1×下该晶粒的实际面积。 6.3.5将此实际面积与表1中的面积进行比较，按表1中最接近的面积确定ALA晶粒度级别，除非相 关各方已商定一致取邻近的较小面积或较大面积确定级别。 注：本方法可使用任何可测量晶粒截面面积的自动或半自动装置。 6.4仲裁法 6.4.1在图像区域内，用可显示整个晶粒的最大放大倍率，对最大晶粒拍照（如存在多个大晶粒，难以确 定哪个尺寸最大，则对其全部进行拍照，并对所有照片按下列步骤进行操作）。 6.4.2在照片上覆盖一个含有正方网格的透明板，使得最大晶粒能完全被网格所覆盖。推荐使用网格 线间距为5mm。计算落人待测量的最大晶粒内的网点数，落在晶粒边界上的点计为0.5个。 6.4.3以不同的角度在照片上放置透明板进行至少4次测定，每次都按照6.4.2方法计算网点个数。 6.4.4晶粒的截面积按公式（1)计算： M 式中： P(①)—网格不同角度放置时所落入大晶粒内网点数的平均值； d一间距为d的网格中每个小方格的面积； M一照片的放大倍率； A—晶粒截面的测量面积。 6.4.5将所测得的面积（如根据6.4.1规定测定多个截面面积，则应选用其最大面积）与表1中的数据 进行比较，按表1中最接近的面积确定ALA晶粒度级别，除非相关各方已商定一致取邻近的较小面积或 较大面积确定级别。 6.4.6保存照片，并记录下列内容：网格每次放置时所计得的网点数P：(①)、总网点数ZP(①)、平均网点 数P(の)、网格中相邻网点间距d、所用放大倍率M、ALA晶粒的测量面积A和ALA晶粒度级别。 6.5精度和偏差 本标准所用方法的精度与偏差尚待确定。 3