全网唯一标准王
(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211028774.6 (22)申请日 2022.08.26 (71)申请人 常州大学 地址 213164 江苏省常州市武进区湖塘镇 滆湖中路21号 (72)发明人 夏新栋 杨彪 黄振涛 谢陈明玥   汤芷涵 黄怡 王睿 杨长春  (74)专利代理 机构 大连理工大 学专利中心 21200 专利代理师 刘秋彤 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/10(2017.01) G06V 10/30(2022.01) G06V 10/40(2022.01)G06V 10/764(2022.01) G06V 10/774(2022.01) G06V 10/80(2022.01) (54)发明名称 基于级联YOLO-GAN的晶圆缺陷检测及定位 算法 (57)摘要 本发明属于深度学习计算机机器视觉领域 和半导体技术检测领域, 提出一种基于级联 YOLO‑GAN的晶圆缺陷检测及定位算 法。 在晶圆片 生成制造过程中, 将原始图像晶圆片分别送入基 于改进YOLOv5的晶圆检测模型和基于BiseNet的 晶圆语义分割模 型中, 获得晶圆片目标检测框位 置和晶圆片的前景掩模; 原始图像输入至基于改 进生成对抗网络的缺陷检测模型, 进而重构晶圆 图像, 并定位晶圆缺陷区域; 利用晶圆片目标检 测框位置作为约束, 对缺陷图像的连通域进行分 析, 引入Softmax分类器实现对缺陷的定位以及 晶圆缺陷的细分。 本发明实现对不同尺度晶圆片 的视觉检测, 适用于晶圆缺陷的自动检测, 能够 大大提高缺陷检测的准确性与效率。 权利要求书2页 说明书6页 附图2页 CN 115439427 A 2022.12.06 CN 115439427 A 1.一种基于级联YOLO ‑GAN的晶圆缺陷检测及定位 算法, 其特 征在于, 包括 步骤如下; 1)、 在晶圆片生成制造过程中, 将原始图像晶圆片送入基于改进YOLOv5的晶圆检测模 型中, 获得晶圆片目标检测框位置; 2)、 输入原始图像晶圆片至基于BiseNet的晶圆语义分割模型, 进行晶圆片语义分割, 获得晶圆片的前 景掩模m; 3)、 原始图像T输入至基于改进生成对抗网络的缺陷检测模型, 基于改进生成对抗网络 的缺陷检测模型包括生成器G、 鉴别器D与二次编码器E; 原始图像经生成器生成重构图像, 采用内容损失Lcon反映重构图像与真实图像之间的差异; 二次编码器对重构图像进行二次 编码得到二次隐变量, 用编码损失函数Lenc降低原始图像的隐变量和 重构图像的二次隐变 量之间的差值; 将原始图像和重构图像输入至鉴别器, 生成器和 鉴别器迭代优化达到纳什 平衡, 直至原始图像和重构图像在博弈过程中产生的对抗损失满足要求, 基于改进生成对 抗网络的缺陷检测模型训练完成; 鉴别器中原始图像T和重构图像做差, 获得差分图像; 利 用晶圆片的前景掩模进行约束, 进而将差分图像ΔT中的前景像素数数目与给定阈值进行 比较, 判断是否存在缺陷; 4)、 当步骤3)的检测结果存在缺陷时, 利用步骤1)中的晶圆片目标检测框位置作为约 束, 对缺陷图像的连通域进行分析, 引入Softmax分类器实现对缺陷的定位以及晶圆缺陷的 细分; Softmax分类器采用交叉熵损失函数评估, 并对晶圆片缺陷分类的正确与否进行调 整; 当步骤3)的检测结果 不存在缺陷时, 直接 输出晶圆片定位及缺陷检测结果。 2.根据权利 要求1所述的基于级联YOLO ‑GAN的晶圆缺陷检测及定位算法, 其特征在于, 所述步骤1)改进YOLOv5的晶圆检测模型基于单阶段YOLOv5进行改进, 改进YOLOv5的晶圆检 测模型输出模块采用mobilenet卷积算子替代单阶段YOLOv5的标准卷积, 以提高特征融合 速度; 改进YOLOv5的晶圆检测模型包括骨架网络、 特征增强网络、 上下采样网络层、 mobilenet卷积层和检测头网络层; 原始图像晶圆片通过骨架网络和特征增强网络, 得到从低级特征尺度1/2x到高级特征 尺度1/16x的多尺度特征信息流; 再通过上下采样网络层与 1×1卷积核对特征图在深度方 向进行加权信息整合, 得到不同尺寸的特征图; 不同尺寸的特征图同时送入检测头网络层, 检测特征图中不同尺度的目标, 实现晶圆片检测获得晶圆片目标检测框位置 。 3.根据权利 要求1所述的基于级联YOLO ‑GAN的晶圆缺陷检测及定位算法, 其特征在于, 所述步骤2)中, 基于BiseNet的 晶圆语义分割模型 具体为 基于BiseNet的晶圆语义分割模型采用双向语义分割网络, 输入原始图像晶圆片, 分别 经空间路径和上下文路径进行提取特征, 空间路径中经过卷积批处理进 行批处理规范化和 激活, 保留输入晶圆片原图像的空间尺度并丰富空间信息编码; 上下文路径结合注意力优 化模块, 优化每一段 的特征输出; 空间路径和上下文路径所提取 的特征均输入至特征融合 模块, 经主损失函数监 督BiseNet输出, 从而获得晶圆片的前 景掩模。 4.根据权利 要求1所述的基于级联YOLO ‑GAN的晶圆缺陷检测及定位算法, 其特征在于, 所述步骤3)中, 基于改进生成对抗网络的缺陷检测模型包括生成器G、 鉴别器D与二次编码 器E; 生成器G是一个生成式的网络, 其包括编码器GE和解码器GD; 输入原始图像通过编码器 GE和解码器GD生成重构图像 生成器G中的编码器GE对原始图像T进行编码得到隐变量a,权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 115439427 A 2隐变量a输入生成器G中解码器GD解码得到重构图像 WGD、 WGE分别表示编码器GE和解码器GD的可学习权重; 二次编码器E对重构图像进行编码, 得到二 次隐变量 如下式所示: WE表示解码 器E的可学习参数; 根据隐变量a和二次隐 变量 的差值得到编码损失; 鉴别器D是判别网络, 其 为三层卷积神经网络; 输入原 始图像和 重构图像至鉴别器D中, 判别并输出 该重构图像是否为真实图像, 输出lD, 5.根据权利 要求1或4所述的基于级联YOLO ‑GAN的晶圆缺陷检测及定位算法, 其特征在 于, 所述基于改进生成对抗网络的缺陷检测模型, 采用加权方式联合 生成损失函数; 设计对抗损 失、 内容损 失和编码损 失三个损 失函数, 采用加权方式构造出联合损 失函 数; 采用对抗损失函数表征Ladv生成器与鉴别器在博弈过程中产生的损失, 使用L2范数损失 函数计算, 如下式所示: Ladv=||f(r) ‑f(G(r)||2; 采用内容损失Lcon反映重构图像 与真实 图像T之间的差异, 使用L1范数损失函数计算, 如 下式所示: Lcon=||T‑G(r)||1; 采用编码损 失Lenc来降低输入图像特征向量T与 重构图像特征向量 之间的差距, 使用L2范数损失函数 计算, 如下式所示: Lenc=||GE(x)‑E(G(x))||2, 最后, 通过加权方式生成联合损失函数L, 如 下式所示: L=ωadvLadv+ωconLcon+ωencLenc, ωadv, ωcon, ωenc是加权参数, 用于调整单个损失 对总体目标函数的影响。 6.根据权利 要求1所述的基于级联YOLO ‑GAN的晶圆缺陷检测及定位算法, 其特征在于, 所述检测结果存在缺陷时, 将训练生成对抗网络得到的缺陷区域按照宽高等比例放大2倍 得到晶圆缺陷掩模M, M包含了缺陷区域及其空间上下文信息, 利用晶圆缺陷掩模M从目标检 测框中提取细分瑕疵特征, 过程如下式所示: D=F ⊙M; 其中, ⊙表示逐点相乘, F表示 mobilenet卷积算子输出的特征图, D表示晶圆片缺陷相关 的目标检测 框; 使用多层感知器 MLP对D进行编码降维, 得到降维后的特征编码D'; 降维后的特征编码D'经过Softmax分类器 后, 使用交叉熵损失函数进行 分类, 如下式所示: k表示细分瑕疵种类数目, 表示标签的o ne‑hot编码, di表示Softmax分类 器的输出。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 115439427 A 3

.PDF文档 专利 基于级联YOLO-GAN的晶圆缺陷检测及定位算法

文档预览
中文文档 11 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 309 收藏 3.0分
温馨提示:本文档共11页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
专利 基于级联YOLO-GAN的晶圆缺陷检测及定位算法 第 1 页 专利 基于级联YOLO-GAN的晶圆缺陷检测及定位算法 第 2 页 专利 基于级联YOLO-GAN的晶圆缺陷检测及定位算法 第 3 页
下载文档到电脑,方便使用
本文档由 人生无常 于 2024-03-18 10:15:15上传分享
友情链接
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们微信(点击查看客服),我们将及时删除相关资源。